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 此为碳基底锡球标样，其中锡球颗粒尺寸5nm至30μm，颗粒尺寸范围很大，在扫描电镜中会有更清晰明显的对比度。大尺寸的颗粒可在低放大倍率下进行基础的校准；中等尺寸的颗粒可在改变操作参数时，检查是否有图像漂移，或者在低电压下进行分辨率的校准；小尺寸的颗粒可很高放大倍率下，进行象散校正及分辨率校正。适用于扫描电镜、台式扫描电镜和高倍率光学显微镜的分辨率，锡球颗粒比金颗粒更适合于检测背散射电子分辨率。